전력 장치 특성화

자동 파라메트릭(Parametric) 테스트

 SiC 및 GaN 전력 변환

IoT 장치의 배터리 수명 최대화 

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• Si, SiC 및 GaN 장치에 대한 안전하고,

   ​정확하고, 빠른 MOSFET 테스트
• 광범위한 전력 엔벨로프(envelope)
• 안전하게 테스트 설정
• 시장 출시 기간을 단축하는 2배 빠른

   장치 특성화
• 광대역 밴드갭 장치의 비용이 많이 드는

  ​과도한 설계 방지
 

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• 전 자동 HV 웨이퍼 레벨 테스트
• 테스트 설정을 변경하지 않고도

​  고전압에서 저전압으로 전환
• 수동 재구성 없이 커패시턴스(capacitance)

  ​측정 빠른 자동화
 

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• 커먼 모드(common mode) 고전압 해결
• 여러 제어 및 타이밍 신호를 동시에 측정
• 보다 빠른 자동 전력 측정
• 적합성 테스트 요구 조건 만족
 

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​• 부하 전류 프로필 확인
• 모든 배터리 시뮬레이션
• 모든 배터리 유형 모델링
 

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제어 루프 분석

파워 서플라이 측정 및 분석

PDN에서의 전원 무결성 분석

3상 가변 주파수 드라이브에서의 측정 

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• 오실로스코프 기반 응답 측정 설정
• 제어 루프 측정을 위한 프로브 특성화
• 보드 플롯을 이용한 안정성 마진 측정
• 제어 루프 분석 시스템 

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• 스위칭 손실 측정 및 분석
• 회로 내 인덕터 및 변압기 측정
• GaN 및 SiC 스위칭 장치 측정
• SOA(안전 동작 영역)
• 파워 서플라이 제거비
• 제어 루프 응답
 

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​• DC를 차단하지 않고 고주파 리플 측정
• 1V~48V 이상의 파워 서플라이 처리
• 측정 시스템 노이즈 영향 최소화
• PDN 임피던스 측정
• 동기화된 스펙트럼과 파형을 이용한

   ​노이즈 찾기
• 자동 파워 레일 측정
 

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​• PWM 3상 모터 드라이브에서 측정을

   안정적으로 수행
• 오실로스코프 기반 페이서 다이어그램
• 시스템 효율 측정
• DC 버스 측정
•2 V2I, 3V3I 스타 및 델타 구성뿐 아니라

  DC 입력/3상 출력도 지원
 

 전력 효율성의 트랜드

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Tektronix의 엔지니어가 전력 효율성이 어느 때보다 중요한 설계 고려 사항이 된 이유에 대한 견해를 공유합니다.

"올해는 상용 제품이 다수 출시됨으로써 탄화규소 기술의 중대한 변곡점이 발생한 해입니다."

텍트로닉스, Pat Hensley