3D 센싱 및 이미지 특성화
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3D 센싱 어플리케이션은 VCSEL, 레이저 다이오드 및 포토 다이오드의 전기 테스트를 필요로 함
3D 센싱으로 카메라 개체 및 안면 인식을 강화합니다. 3D 센싱은 증강 현실(AR), 게임, 자율 주행 및 기타 광범위한 애플리케이션에서 안면 및 개체 인식 기능을 위한 카메라 기능을 강화하는 심도 센싱(Depth Sensing) 기술입니다. 코히런트(Coherent) 적외선은 구조형 패턴을 통해 개체로 전달됩니다. 반사광을 디코딩하여 3D 이미지를 구성할 수 있습니다. 개체에서 바운스된 빛의 광자 위상차를 수신하여 개체를 감지합니다. 다음 2가지 깊이 있는 애플리케이션 노트를 받아보십시오. |
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다이오드 기반 광 장치를 통한 3D 센싱이 가능해집니다. 레이저 다이오드, 고휘도 발광다이오드(HBLED), 포토 다이오드(PD)와 같은 다이오드 기반 장치가 3D 센싱을 실현하는 핵심 광 장치입니다. 일반적인 레이저 다이오드의 2가지 종류는 EEL(Edge Emitter Laser)과 빠르게 증가하고 있는 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)입니다. VCSEL은 증가하는 전력을 위해 저비용의 제조 효율성, 옵티컬 효율성, 온도 안정성 및 대형 2D 배열의 이점을 활용합니다. EEL은 일반적으로 옵티컬 통신에서 발생하는 Fiber상에서의 손실 없이 수백 킬로미터 이동할 수 있으며, 더 높은 주파수에서 작동합니다. 이는 고품질 백색광을 위한 가장 효율적인 광원으로, 조명에 적합합니다. 효율성 저하, 변조 기능 제한 및 해상도 때문에 일부 애플리케이션에만 적용할 수 있습니다. 파악하기 위해 낮은 PD 전류를 측정할 수 있는 고민감도 기기가 필요합니다. 3D 감지 기능의 핵심이 되는 레이저 다이오드에 대한 10가지 테스트에 대해 알아보십시오. |
Keithley 장비는 다이오드 기반 장치에 대한 전기적 테스트를 성공적으로 수행합니다. 전체 작동 온도에 걸쳐 파장이 안정적으로 유지되는 것은 정밀도를 유지하고 수신된 신호의 노이즈를 최소화는 데 중요한 요소입니다. 정밀도 트리거를 통한 전기 효율성 측정 및 펄스 폭과 듀티 사이클의 동기화가 되어야 조명에 요구되는 밝기 및 해상도를 최적화할 수 있습니다. 이러한 측면은 최종 시스템의 열 소모, 전원 소비 및 배터리 수명에 직접적인 영향을 미칩니다. 키슬리 SMU(Source Measure Unit) 장비는 광도, 전방향 전압, 레이저 임계 전류, 양자 효율, 암전류, “킨크” 또는 킨크 테스트(Kink Test)의 여부, 기울기 효율, 서미스터 저항, 온도, 커 패시턴스 및 L-I-V 펄스 테스트 영역을 비롯하여 전기 테스트를 수행합니다. |
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Featured Content |
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광/레이저 다이오드 테스트 |
레이저 다이오드 배열 테스트 |
트리거 동기화 |
웨비나를 시청을 통해 3D 센싱 및 에 다양한 디바이스에 사용될 수 있는 10가지 테스트 방법을 알아보십시오. | “3D 센싱을 위한 레이저 다이오드 배열 테스트” 애플리케이션 노트를 받아보십시오. | “빅셀(VCSEL)의 고용량 프로덕션 테스트를 위한 트리거 동기화 개선” 애플리케이션 노트를 받아보십시오. |
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통합 스피어로 레이저 다이오드 옵티컬 파워 측정 | 레이저 다이오드의 펄스 테스트 | 레이저 다이오드 모듈 및 VCSEL의 고속 대량 DC 프로덕션 테스트 (High Throughput DC Production Testing) |
프로덕션 환경에서 통합 스피어를 사용하여 방사능 소스의 옵티컬 파워를 측정하는 방법을 제공합니다. | 레이저 다이오드의 펄스 테스트와 관련된 측정 과제 및 테스트 구성 고려 사항을 살펴봅니다. | 이 애플리케이션 노트는 처리량 및 동기화를 극대화하고, 레이저 다이오드 프로덕션 테스트의 간접비를 줄이는 기법을 제공합니다. |
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권장 장비 |
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2606B Four-Channel System SMU | SMU 2600B 시리즈 | DMM7510 7½ Digits 그래픽 샘플링 멀티미터 |
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2606B는 1U의 높은 폼팩터 섀시로 4개의 20와트 SMU 채널을 제공합니다. 키슬리의 3세대 SMU 기술로 제작된 2606B는 3D 센싱에 사용되는 VCSEL 및 레이저 다이오드와 같은 광전자 장치에 대한 자동화된 자격 검증 및 생산 테스트의 생산성을 크게 향상시킵니다. | 2600B 시리즈는 레이저 다이오드 테스트를 위한 최고 시스템으로, 자동화 및 동기화된 고도의 프로덕션 테스트에 대한 펄스 전류 소싱 및 전압-전류 모니터링을 위해 빠른 속도와 높은 정확도를 제공합니다. | Keithley의 DMM7510은 레이저 다이오드 모듈의 서미스터 저항 및 온도 측정을 위한 정밀도, DMM(고해상도 디지털 멀티미터)을 전체 짧은 펄스 레이저 파워의 암전류에 대한 pA-레벨 민감도 및 1Msample/s 샘플링 기능을 갖춘 고속 고해상도 디지타이저 및 그래픽 터치스크린 디스플레이와 결합합니다. |
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2510 및 2510-AT TEC 장비 | 2651A 고전력 SMU Max 50A |
6485 5½ Digits 피코암미터 |
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Keithley의 2510 및 2510-AT TEC SourceMeter SMU 장비로 레이저 다이오드 모듈의 열전기 냉각기 작동을 제어하여 테스트 과정에서 장치온도를 정확하고 상세하게 제어할 수 있습니다. | Keithley의 2651A 고전력 SourceMeter SMU 장비는 최대 2000W의 펄스 전류(±40V, ±50A)를 제공하여 HBLED 및 옵티컬 디바이스 특성화 및 테스트에서 생산성을 향상시킵니다. | 전체 레이저 파워의 암전류의 경우, Keithley의 비용 효율적인 6485 피코암미터를 사용하여 초당 최대 1000회 판독 속도로 20fA~20mA의 포토다이오드 전류를 측정할 수 있습니다. |
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