광대역 SATCOM
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시스템 또는 구성 요소 레벨에서의 SATCOM 통신 테스트
위성 경로를 통해 데이터, 음성, 고해상도 이미징을 안정적으로 전송하려는 요구가 증가됨에 따라 전송 변조 기법의 최신 기술을 사용하여 데이터 처리량을 최고로 높이고,
시스템의 트랜스미터 및 리시버 양쪽에서 매우 높은 신호 충실도를 달성하여 데이터 오류를 최소화하려는 요구 또한 높아지고 있습니다.
텍트로닉스는 시스템 레벨과 구성 요소 레벨 모두에서 테스트할 수 있는 도구를 제공합니다.
SATCOM 채널 성능 벡터 크기를 빠르고 정확하게 측정 |
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보안 통신을 안전하게 송수신하는 기능은 군대 명령 및 통제의 필수입니다. 링크의 모든 요소는 통신 품질에 부정적인 영향을 미칠 수 있습니다. 적절한 테스트 장비를 보유하는 것은 새로운 시스템의 설계, 설치된 시스템의 성능 확인 또는 복구 시스템 구성 요소에서 대단히 중요한 일입니다. 이러한 요구를 해결하기 위해 텍트로닉스 DPO77002SX는 DC부터 대부분의 V 밴드 (최대 70GHz)에 이르는 모든 신호를 획득할 수 있는 기능을 제공합니다. 다운 컨버터를 사용 하여 직접 획득하면 테스트 중인 신호 성능의 저하를 최소화합니다. 완전 통합형 SignalVu 소프트웨어는 획득한 데이터로부터 바로 스펙트럼 분석, 복조(예: QPSK, 16QAM 등), 배치도, EVM 측정값을 제공합니다. SDLA 옵션 소프트웨어를 사용하면 신호 경로(예: 도파관, 케이블 등)의 시스템 손실 및 반향에서 측정값을 보정할 수 있습니다. 이 장비를 사용해서 EVM 측정값 2.1%를 구했습니다. | 완전한 RX 및 TX 기능을 갖춘 고성능 모바일 SATCOM 플랫폼 |
더욱 쉬워진 복잡한 변조 체계 생성
통신 시스템을 구축하는 일은 안전을 유지하고 적보다 한 발 앞서서 대처하는 데 중요합니다. 그렇지만 통신 시스템 및 구성 요소를 완벽하게 테스트하는 적절한 신호 소스를 찾는 일은 어려울 수 있으며, 손상된 신호를 생성하여 해당 시스템의 스트레스 테스트를 수행하려는 경우에는 더욱 그렇습니다. 텍트로닉스 AWG70000A 및 AWG5200 신호 소스는 복잡한 변조 베이스밴드, IF, RF/마이크로 웨이브 신호(예: BPSK I&Q, 16QAM 및 기타 신호)를 생성하는 데 적합하며, RF Generic 플러그 인과 함께 완전 통합형 SourceXpress 소프트웨어로 다양한 손상을 추가하여 시스템의 스트레스를 테스트하는 데도 이용 가능합니다. SourceXpress의 사전 보정 기능을 사용하면 AWG 및 the DUT 간의 손실을 자동으로 보상할 수 있습니다. | 100회 이상의 획득 동안 EVM이 매우 낮은 신호를 보여 주는 범용 복조 측정값 스크린샷입니다.
SourceXpress용 사용자 인터페이스입니다. |
주요 콘텐츠 |
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복잡한 레이더 신호 정복 | 레이더에 대한 현실적 신호 만들기 | AWG를 사용하여 고급 레이더 신호 생성 |
웹 세미나 | 애플리케이션 노트 | 애플리케이션 노트 |
복잡한 레이더 신호의 생성과 관련된 문제를 집중적으로 소개하는 웨비나입니다. 이 작업을 보다 효율적으로 진행하는 데 도움이 되는 도구를 제공합니다. | 이 애플리케이션 노트는 형식, 주파수, 기능 등의 레이더 신호 특성, 모듈 유형과 방식, 베이스밴드에서 변조된 RF에 이르는 레이더 신호 생성 접근 방법, 고성능 AW를 사용하여 실질적인 레이더 파형을 생성하는 방법 등을 설명합니다. | 이 애플리케이션 노트는 AWG(임의 파형 발생기)에서 찾은 증가한 샘플링 속도, 아날로그 대역폭, 메모리, 디지털출력을 활용하여 해상도를 높이고, 잘못된 대상 반환값을 줄이고, 실제 대상의 감지 가능성을 높이는 방법을 설명합니다. |
RF 및 IF 직접 캡처 | 복잡한 변조 체계를 쉽게 생성 | I 및 Q 또는 대역폭이 넓은 IF 신호 생성 |
DPO7000 | SourceXpress | AWG70000 |
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70GHz 오실로스코프를 통해 텍트로닉스는 업계 최저의 노이즈 실시간 획득 및 특허받은 ATI(비동기 시간 인터리빙) 기술을 제공합니다. 깔끔한 소형 폼팩터(작업의 개별 특성에 적합함)를 통해 텍트로닉스는 유연한 시스템 구성과 필수 확장성을 복잡한 시스템에 제공합니다. | 신호 손상을 시뮬레이션하여 시스템의 스트레스 테스트를 수행하고 환경적 스트레스를 추가하는 작업은 복제, 처리 또는 교정하기가 어려울 수 있습니다. SourceXpress를 사용하면 복잡한 변조 체계를 쉽게 생성하여 Tx 모듈 및 시스템 성능을 표시할 수 있습니다. | 혁신적인 테스트 장비는 설계 프로세스에서 테스트 불확실성을 줄여주고 점점 복잡해지는 설계의 무결성을 확실하게 제공합니다. 업계 최고 수준의 AWG70000 시리즈 임의 파형 발생기는 성능, 샘플링 속도, 신호 충실도, 파형 메모리 측면에서 가장 최첨단 기능을 제공하는 장비입니다. |
• 3.5GHz, 2.5GHz, 1GHz 및 500MHz 대역폭 모델 2개 채널에 대한 최대 20GS/s의 실시간 샘플링 속도, 3~4개 채널에 대한 최대 10GS/s의 샘플링 속도 길이 지원 캡처 속도 세그먼트화된 메모리 획득 모드 사용자가 선택 대역폭 제한 필터
| • S-파라미터를 사용하여 Tx 섹션에서 하위 시스템을 모델링할 수 있음 사용하여 Tx 출력을 직접 평가할 수 있음
| • 최대 50GS/s인 샘플링 속도
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