USB
페이지 정보
본문
텍트로닉스의 USB Tx 및 Rx 소프트웨어 솔루션은 USB-IF 테스트 표준과 호환되는 USB 3.1 유형 C, USB 3.1 및 USB 2.0 기반 시스템을 설계하는 엔지니어의
전기 검증, 컴플라이언스, 특성화 및 디버깅 요구 사항을 충족합니다. 컴플라이언스를 위한 USB-PD 전기 파라메트릭 및 프로토콜 측정 솔루션도 사용 가능합니다.
자동 USB 3.1 C형 테스트 솔루션
• SuperSpeed USB 3.1 C형 설계 테스트 시, SigTest 지원 및 DPOJET의 결합을 활용하여 문제의 근본 원인을 신속하게 찾아냅니다.
텍트로닉스 오실로스코프 및 BERT를 활용한 송신기 및 수신기 테스트
• BSX 시리즈 BERTScope는 Gen 1@5Gb/s 및 Gen 2@10Gb/s 통합 DPP 및 프로토콜 인식 아키텍처를 지원합니다.
• MSO/DPO70000 DX 시리즈 오실로스코프에서 시리얼 패턴 트리거를 사용하여 전기 검증과 함께 프로토콜 분석을 수행합니다.
• 업계 최저 노이즈를 자랑하는DPO70000SX 시리즈 오실로스코프를 사용하여 가장 정확한 특성화 및 마진 분석을 수행할 수 있습니다.
Featured Content |
|
|
USB 3.1 레퍼런스 가이드 – 사용자가 알아야 하는 사항 | USB Type-C 설계 검증 간소화 : 복잡성을 줄이면서 신뢰성 향상 | USB 3.1 수신기 컴플라이언스 테스트 |
수백 페이지를 샅샅이 살펴보지 않고도, 가장 중요한 USB 사양을 쉽고 빠르게 확인할 수 있습니다. 이 레퍼런스 가이드에는 전자 테스트의 매개변수, 컴플라이언스 패턴에 대한 레퍼런스 이미지, 1세대 및 2세대한 대한 루프백 시퀀스, 주요 Tx/x 테스트 및 측정 문제를 해결하는 방법 등을 기술하고 있습니다.
| 오류를 디버깅하기 위한 포괄적인 툴은 제품이 컴플라이언스를 통과하고 인증을 획득할 수 있도록 하는 데 핵심적입니다. 이러한 심도 깊은 웨비나는 컴플라이언스 작업을 복잡성을 단순하게, 동시에 신뢰성을 제공하는데 도움이 될 것입니다. | 이 애플리케이션 노트에서는 측정된 장치 마진을 사용한 스트레스 아이 교정 및 지터 허용 오차 테스트를 비롯한 USB 3.1 수신기 테스트의 모든 측면을 다룹니다. |
- 이전글DisplayPort 21.05.17
- 다음글Testing High Speed Serial Standards over Type-C 21.05.17
댓글목록
등록된 댓글이 없습니다.